Investigation of metal diffusion in amorphous silicon thin film

Issued Date

2008

Copyright Date

2008

Resource Type

Master Thesis

Language

eng

File Type

application/pdf

No. of Pages/File Size

xi, 113 leaves : ill.

Access Rights

open access

Rights

ผลงานนี้เป็นลิขสิทธิ์ของมหาวิทยาลัยมหิดล ขอสงวนไว้สำหรับเพื่อการศึกษาเท่านั้น ต้องอ้างอิงแหล่งที่มา ห้ามดัดแปลงเนื้อหา และห้ามนำไปใช้เพื่อการค้า

Rights Holder(s)

Mahidol University

Bibliographic Citation

Thesis (M.Sc. (Physics))--Mahidol University, 2008

Suggested Citation

Wasutep Luangtip Investigation of metal diffusion in amorphous silicon thin film. Thesis (M.Sc. (Physics))--Mahidol University, 2008. Retrieved from: https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/20.500.14594/96641

Title

Investigation of metal diffusion in amorphous silicon thin film

Alternative Title(s)

การตรวจหาการแพร่ของโลหะไปสู่ชั้นของซิลิกอนอสัณฐาน

Author(s)

Wasutep Luangtip

Advisor(s)

Toemsak Srikhirin

Description

Physics (Mahidol University 2008)

Degree Name

Master of Science

Degree Level

Master's degree

Degree Department

Faculty of Science

Degree Discipline

Physics

Degree Grantor(s)

Mahidol University

Keyword(s)

Aluminum
 Diffusion
 Ellipsometry
 Silicon
 Silver
 Thin films -- Optical properties

Availability

URI

https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/20.500.14594/96641

Collections

Thesis and Thematic paper