Thin film thickness measurement by using a hibi fiber polarization modulation technique

1

Issued Date

2007

Copyright Date

2007

Resource Type

Master Thesis

Language

eng

File Type

application/pdf

No. of Pages/File Size

xvii, 138 leaves : ill. (some col.)

Access Rights

open access

Rights

ผลงานนี้เป็นลิขสิทธิ์ของมหาวิทยาลัยมหิดล ขอสงวนไว้สำหรับเพื่อการศึกษาเท่านั้น ต้องอ้างอิงแหล่งที่มา ห้ามดัดแปลงเนื้อหา และห้ามนำไปใช้เพื่อการค้า

Rights Holder(s)

Mahidol University

Bibliographic Citation

Thesis (M.Sc. (Physics))--Mahidol University, 2007

Suggested Citation

Somporn Buaprathoom Thin film thickness measurement by using a hibi fiber polarization modulation technique. Thesis (M.Sc. (Physics))--Mahidol University, 2007. Retrieved from: https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/123456789/96884

Title

Thin film thickness measurement by using a hibi fiber polarization modulation technique

Alternative Title(s)

การวัดความหนาแน่นของฟิล์มบางโดยใช้เทคนิคมอดูเลตโพลาไรเซซันของแสง

Author(s)

Somporn Buaprathoom

Advisor(s)

Ratchapak Chitaree

Description

Physics (Mahidol University 2007)

Degree Name

Master of Science

Degree Level

Master's degree

Degree Department

Faculty of Science

Degree Discipline

Physics

Degree Grantor(s)

Mahidol University

Keyword(s)

Fiber optics
 Polarization (Light) -- Physiological aspects
 Thin films -- Analysis

Availability

URI

https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/123456789/96884

Collections

Thesis and Thematic paper