Skip to main content
English
ไทย
Log In
Log in
New user? Click here to register.
Have you forgotten your password?
Communities & Collections
All of Mahidol IR
Mahidol Journals
Statistics
About Us
Customer Feedback
Deposit
Home
Mahidol University Dissertations and Thesis (Mahidol e-Theses)
Thesis and Thematic paper
Thin film thickness measurement by using a hibi fiber polarization modulation technique
Issued Date
2007
Copyright Date
2007
Resource Type
Master Thesis
Language
eng
File Type
application/pdf
No. of Pages/File Size
xvii, 138 leaves : ill. (some col.)
Access Rights
open access
Rights
ผลงานนี้เป็นลิขสิทธิ์ของมหาวิทยาลัยมหิดล ขอสงวนไว้สำหรับเพื่อการศึกษาเท่านั้น ต้องอ้างอิงแหล่งที่มา ห้ามดัดแปลงเนื้อหา และห้ามนำไปใช้เพื่อการค้า
Rights Holder(s)
Mahidol University
Bibliographic Citation
Thesis (M.Sc. (Physics))--Mahidol University, 2007
Suggested Citation
APA
IEEE
MLA
Chicago
Vancouver
Somporn Buaprathoom
Thin film thickness measurement by using a hibi fiber polarization modulation technique.
Thesis (M.Sc. (Physics))--Mahidol University, 2007.
Retrieved from:
https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/123456789/96884
Title
Thin film thickness measurement by using a hibi fiber polarization modulation technique
Alternative Title(s)
การวัดความหนาแน่นของฟิล์มบางโดยใช้เทคนิคมอดูเลตโพลาไรเซซันของแสง
Author(s)
Somporn Buaprathoom
Advisor(s)
Ratchapak Chitaree
Description
Physics (Mahidol University 2007)
Degree Name
Master of Science
Degree Level
Master's degree
Degree Department
Faculty of Science
Degree Discipline
Physics
Degree Grantor(s)
Mahidol University
Keyword(s)
Fiber optics
Polarization (Light) -- Physiological aspects
Thin films -- Analysis
Availability
Read Online
URI
https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/123456789/96884
Collections
Thesis and Thematic paper
Full item page
Send Feedback